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FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM 是高性能、結(jié)構(gòu)緊湊且用途廣泛的X射線測量儀器，專為無損涂層厚度測量與材料分析而設(shè)計。憑借的精度和長期穩(wěn)定性，該系列儀器廣泛應用于質(zhì)量保證、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制等領(lǐng)域。

典型應用包括：

螺釘、螺栓、螺母等小型零部件的涂層厚度檢測

觸點及各類電子元器件的分析

電鍍槽液成分的測定

XULM 240 型號額外適用于：

極小零件、插頭觸點及導線的高精度測量

印刷電路板（PCB）的手動檢測

珠寶與鐘表行業(yè)的精細測量

儀器采用比例計數(shù)管，實現(xiàn)高計數(shù)率，顯著提升測量精度。得益于FISCHER的基本參數(shù)法（Fundamental Parameters Method），系統(tǒng)可對固體、液體樣品及多層涂層體系進行分析，通常無需額外校準，大幅節(jié)省時間和操作成本。

XULM 240 配備微焦點X射線源，并支持電動切換的準直孔徑和初級濾光片，確保對微小區(qū)域進行精準聚焦測量，特別適合復雜幾何形狀或高密度排布的小型工件。

憑借出色的重復性與極低的重新校準頻率，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY 系列為工業(yè)質(zhì)量控制提供了高效、可靠的解決方案。